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1. IC卡芯片和模块芯片测试系统
2. 芯片同步时钟的测试方法及可同步测试时钟功能的芯片
3. 一种对异步通讯芯片实现多芯片并行测试的方法
4. 同步通讯芯片进行多芯片并行测试的方法
5. 可同时测试多个待测芯片的测试装置以及单颗芯片测试机
6. 非接触式应用芯片的多通道测试仪芯片测试接口
7. 芯片测试系统和芯片测试方法
8. 芯片及芯片测试方法
9. 发光二极管芯片和外延片光强测试仪
10. 红外焦平面列阵探测器芯片的性能测试装置
11. 借助印刷电路板测试芯片的装置
12. 视频显示芯片的测试方法和装置
13. 集成电路IC单颗芯片测试机
14. 使用表面黏接技术的芯片测试脚座
15. 用于芯片内系统的设计的分级内置自测试
16. 一种细胞差异表达与基因测试复合微流芯片
17. 可预先测试效能的芯片制作流程及其测试方法
18. 电阻交叉点存储器、再标定测试方法和自标定电阻交叉点存储器阵列芯片
19. 在芯片内部集成电阻电容乘积的时间常数测试电路
20. 芯片测试装置
21. 一种半导体中测试球栅阵列封装芯片的接触器
22. 一种边界扫描芯片容错测试方法及系统
23. 在晶片级减少的芯片测试方案
24. 芯片管脚开/短路测试机及其方法
25. 一种用于测试芯片的虚级联延时对齐特性的系统及方法
26. 测试功率型LED热阻的方法及其专用芯片
27. 一种芯片内建电可擦除存储器的测试模块及其测试方法
28. 用数字信号和射频信号发射/识别电路测试RFID芯片的方法
29. RF芯片测试方法和系统
30. SARS抗体筛选多肽芯片的制备与检测试剂盒
31. 芯片测试保护座
32. 一种具有高集成度的实时差错检测与纠错芯片
33. 可自测试的带微处理器的智能卡芯片
34. 芯片测试机改良结构
35. 非易失性存储器微机芯片及其测试方法
36. 光盘芯片测试板及其中的移相射频信号发生电路
37. CPU卡芯片的测试方法
38. 晶片级的测试及凸点工艺、以及具有测试垫的芯片结构
39. 在芯片设计的验证中建立无限测试矢量的方法
40. 可自测试的带微处理器的智能卡芯片
41. 芯片测试夹具及其上盖
42. 测量非共面电极激光器芯片的高频测试夹具
43. 非共面电极半导体激光器芯片高频特性测试台
44. 微机械芯片测试探卡及制造方法
45. 测试集成芯片的测试系统及其转接器组件和预烧板
46. 一种应用于系统级芯片测试中的芯核并行包装电路和方法
47. 一种应用于芯片的仿真测试方法
48. 动态随机存取存储器存储芯片的测试方法及电路
49. 一种测试交换芯片及相关高速链路的方法
50. 一种测试VOIP语音算法逻辑芯片的系统及方法
51. 芯片安装用带子的检验方法以及用于检验的测试装置
52. 空调器用复位芯片的测试方法
53. 一种BEOL测试芯片在线失效分析的方法
54. 同步通讯芯片并行测试的方法
55. 可避免热点并可均匀分布热量的系统级芯片测试方法
56. LCOS显示芯片的测试电路
57. 非接触式应用芯片的多通道测试仪
58. 基于现场可编程门阵列芯片的155M比特误码分析测试仪
59. 半导体光电子器件芯片测试用的夹具
60. 用于测试影像感测芯片的探针卡
61. 芯片测试方法及相关装置
62. 可自我测试的芯片及其测试方法
63. 在MCP或SIP中的存储芯片的测试系统
64. 包括至少一个测试接触结构的芯片
65. 便携式多信道光电子芯片测试信号发生装置及测试方法
66. 异步通讯芯片时间参数的测试方法
67. 同步通讯芯片并行测试方法
68. 内嵌非易失存储器的系统集成芯片的安全测试方法
69. 测试内嵌多块非易失存储器的系统整合芯片的方法
70. 芯片测试电路板
71. 一种微波芯片测试装置
72. 用于芯片测试工具的转接座
73. 一种芯片通用测试装置及其构建方法
74. 一种测试芯片的方法及系统
75. 芯片测试方法与相关装置
76. 芯片测试机制与相关方法
77. 光信号接收装置、测试装置、光信号接收方法、测试方法、测试模块及半导体芯片
78. 一种芯片调试接口装置
79. 测试设备与芯片的接触调试方法
80. NVM芯片测试系统及测试方法
81. 芯片高压测试系统板及高压测试方法
82. 实现SOC芯片中多任务多FLASH同时测试的方法
83. 提高SOC芯片测试效率的方法
84. 芯片测试装置与系统
85. 智能卡芯片测试方法和电路
86. 高清数字电视SOC芯片自测试模式发生器
87. 一种芯片测试卡定位台
88. 光集成芯片的自动测试系统
89. 具多种测试模式的系统芯片及其测试方法
90. 一种检测胃炎相关标志物的芯片及检测试剂盒
91. BGA芯片测试座连接器
92. 芯片测试模块
93. 具整合体质测试与功能测试的芯片测试装置
94. 一种块标记的系统芯片测试数据压缩方法
95. 可更换测试弹簧的芯片测试座
96. 微机械圆片级芯片测试探卡及制作方法
97. 芯片测试系统及测试方法
98. 芯片的和晶片的工艺测试方法与集成电路结构
99. 电源管理芯片的前缘遮蔽参数的测试方法
100. 芯片测试装置
101. 模拟热测试芯片的热阻值的方法
102. 一种芯片测试装置
103. CMMB手机电视解调芯片测试电路
104. 芯片测试分类机
105. 芯片测试机构的测试方法及其装置
106. 一种芯片测试装置
107. 芯片测试夹具结构改良
108. 一种芯片老化测试系统
109. 芯片测试电路系统
110. 一种SOC芯片功能测试板
111. 芯片测试装置
112. 一种芯片测试的方法、系统及一种测试设备
113. 基于JTAG的数据传输方法,应用该方法的芯片及其测试板
114. 基于可编程逻辑器件的多芯片自动测试方法
115. 一种测试数模转换芯片的数模转换功能的方法和装置
116. 测试芯片座
117. 一种测试芯片的方法及装置
118. 一种芯片静电放电测试装置
119. 一种芯片静电放电测试失效后的调试方法及装置
120. CMOS芯片的闩锁效应测试方法和系统
121. 连接测试装置与方法及使用该装置的芯片
122. 一种数字芯片测试方法和测试系统
123. 高通量测试芯片
124. 一种生物微粒介电特性测试芯片
125. 一种数字逻辑芯片及其可测试设计的方法
126. 单细胞行波介电谱的高通量测试芯片及测试方法
127. 射频调谐器芯片中混频器三阶互调失真的自动测试方法
128. 一种测试双面芯片光电性能的方法及组件
129. 一种生物微粒介电特性测试芯片及测试方法
130. 集成有只读存储器的芯片及内建自测试系统及方法
131. 用于微波功率放大器芯片的在片测试方法及其测试系统
132. 用于微波功率放大器芯片的在片测试方法及其测试系统
133. 片上系统芯片、片上系统芯片的跟踪调试系统及方法
134. 用于调试可编程芯片的装置及现场可编程门阵列芯片
135. 芯片内调试系统
136. 利用计算机仿真调试PDP电视芯片程序的方法
137. 一种用于DIP可编程芯片程序调试的安全卡座
138. 一种适用于多处理器核系统芯片的调试方法
139. 一种用于带有表贴芯片电路的验证调试系统
140.测试集成电路卡中芯片操作系统和芯片兼容的装置
141.测试集成电路卡中芯片操作系统和芯片兼容的装置